【導讀】某接地臺式產(chǎn)品,對接地端子處進(jìn)行測試電壓為6KV的ESD接觸放電測試時(shí),系統出現復位現象。測試中嘗試將接地端子與內部數字工作地相連的 Y電容斷開(kāi),測試結果并未明顯改善。
[現象描述]
某接地臺式產(chǎn)品,對接地端子處進(jìn)行測試電壓為6KV的ESD接觸放電測試時(shí),系統出現復位現象。測試中嘗試將接地端子與內部數字工作地相連的 Y電容斷開(kāi),測試結果并未明顯改善。
[原因分析]
ESD干擾進(jìn)入產(chǎn)品內部電路,形式多種多樣。對于本案例中的被測產(chǎn)品來(lái)說(shuō),其測試點(diǎn)為接地點(diǎn),大部分的ESD干擾能量將從接地線(xiàn)流走, 也就是說(shuō)ESD電流并沒(méi)有直接流入該產(chǎn)品的內部電路,但是,處在IEC61000-4-2標準規定的ESD測試環(huán)境中的這個(gè)臺式設備,其接地線(xiàn)長(cháng)度在1m左右,該接地線(xiàn)將產(chǎn)生較大的接地引線(xiàn)電感(可以用1u H/m來(lái)估算),在靜電放電干擾發(fā)生時(shí)(即圖1中開(kāi)關(guān)K閉合時(shí)),高的頻率(下于1ns的上升沿)靜電放電電流并不能使該被測產(chǎn)品接地點(diǎn)上的電壓為零(即圖1 中G點(diǎn)的電壓在K閉合時(shí)并不為零)。這個(gè)在接地端子上不為零電壓將會(huì )進(jìn)一步進(jìn)入產(chǎn)品內部電路。圖1已經(jīng)給出了ESD干擾進(jìn)入產(chǎn)品內部PCB的原理圖。

圖 1 ESD干擾進(jìn)入產(chǎn)品內部PCB的原理圖
從圖1中還可以看出,CP1:(放電點(diǎn)與GND之間的寄生電容),Cp2:(PCB板與參考接地板之間的寄生電容),PCB板的工作地(GND)和靜電放電槍?zhuān)òo電放電槍接地線(xiàn))一起形成了一條干擾通路,干擾電流為ICM。在這條干擾路徑中,PCB板處在其中,顯然PCB在此時(shí)受到了靜電放電的干擾。 如果該產(chǎn)品還存在其它電纜,這種干擾將更為嚴重。
干擾是如何導致被測產(chǎn)品復位的呢,經(jīng)過(guò)仔細檢查被測產(chǎn)品的PCB之后發(fā)現,該PCB板中CPU的復位控制線(xiàn)布置在PCB板的邊緣,并且在GND平面之外,如圖2所示。
再來(lái)解釋一下為何布置在PCB邊緣的印制線(xiàn)比較容易受到干擾,那應該從PCB板中的印制線(xiàn)與參考接地板之間的寄生電容談起。印制線(xiàn)與參考接地板之間存在寄生電容,這個(gè)寄生電容將使PCB板中的印制信號線(xiàn)受到干擾,共模干擾電壓干擾PCB中印制線(xiàn)原理圖如圖3所示。
從圖3可以看出,當共模干擾(相對與參考接地板的共模干擾電壓)進(jìn)入GND后,會(huì )在PCB板中的印制線(xiàn)和GND之間產(chǎn)生一個(gè)干擾電壓,這個(gè)干擾電壓不但與印制線(xiàn)與PCB板GND之間的阻抗(圖3中的Z)有關(guān)還有PCB中印制線(xiàn)與參考接地板之間的寄生電容有關(guān)。
假設印制線(xiàn)與PCB板GND之間的阻抗Z不變,則,當印制線(xiàn)與參考接地板之間的寄生電容越大時(shí),在印制線(xiàn)與PCB板GND之間的干擾電壓Vi越大,這個(gè)電壓與PCB中的正常工作電壓相疊加,將直接影響PCB中的工作電路。

圖2 被測產(chǎn)品局部PCB布線(xiàn)實(shí)圖

圖3 共模干擾電壓干擾PCB中印制線(xiàn)原理圖
由印制線(xiàn)與參考接地板之間的寄生電容計算公式1 可知,印制線(xiàn)與參考接地板之間的寄生電容大小取決于印制線(xiàn)與參考接地板之間的距離(即公式1中的H)和印制線(xiàn)與參考接地板之間形成電場(chǎng)的等效面積(即公式1中的S)。
Cp ≈ 0.1 x S / H (1)
Cp : 寄生電容 [pF]
S : 印制線(xiàn)等效面積 [cm2]
H : 高度 [cm]
當印制線(xiàn)布置在PCB板邊緣時(shí),該印制線(xiàn)與參考接地板之間將形成相對較大寄生電容,因為布置在PCB內部的印制線(xiàn)與參考接地板之間形成的電場(chǎng)被其它印制線(xiàn)所“擠壓”,而布置在邊緣的印制線(xiàn)與參考接地板之間形成的電場(chǎng)且相對比較發(fā)散。圖4為印制線(xiàn)與參考接地板之間電場(chǎng)分布示意圖。

圖4 印制線(xiàn)與參考接地板之間電場(chǎng)分布示意圖
顯然,對于本案例中的電路設計,由于PCB中的復位信號線(xiàn)布置在PCB板的邊緣并且已經(jīng)落在GND平面之外,因此復位信號線(xiàn)會(huì )受到較大的干擾,導致ESD測試時(shí),系統出現復位現象。
【處理措施】
根據以上的原理分析,很容易得出以下兩種處理措施:
1、 重新進(jìn)行PCB布線(xiàn),將復位信號印制線(xiàn)在PCB上左移,使其在GND平面覆蓋的區域內,而且遠離PCB板邊緣,同時(shí)為了進(jìn)一步降低復位信號印制線(xiàn)與參考接地板時(shí)間的寄生電容,可以在復位信號印制線(xiàn)所在的層(本案例為4層板,復位信號線(xiàn)布置在表層)上空余的地方鋪上GND銅箔(通過(guò)大量過(guò)孔與相鄰GND平面相連),如圖5所示。

圖5 修改后的復位信號線(xiàn)布置PCB實(shí)圖
2、在受干擾的復位印制線(xiàn)上,靠近CPU復位管腳的附近并聯(lián)一個(gè)電容,電容值可以選在100pf~1000pf之間。
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