射頻采樣ADC采用深亞微米CMOS工藝技術(shù)制造，并且半導體器件的物理特性表明較小的晶體管尺寸支持的最大電壓也較低。因此，在數據手冊中規定的出于可靠性原因而不應超出的絕對最大電壓，將當前主流的射頻采樣ADC與之前的老器件相比，可以發(fā)現這個(gè)電壓值是變小的。

 

在使用ADC對輸入信號進(jìn)行數字量化的接收機應用中，系統設計人員必須密切關(guān)注絕對最大輸入電壓。該參數直接影響ADC的使用壽命和可靠性。不可靠的ADC可能導致整個(gè)無(wú)線(xiàn)電系統無(wú)法使用，且更換成本也許非常巨大。

 

為了抵消過(guò)壓帶來(lái)的風(fēng)險，射頻采樣ADC集成了可以檢測高電平閾值的電路，允許接收機通過(guò)自動(dòng)增益控制(AGC)環(huán)路調節增益來(lái)進(jìn)行補償。但是，如果采用流水線(xiàn)型ADC，則與架構相關(guān)的固有延遲可能導致輸入暴露于高電平之下，從而可能損害ADC輸入。本文討論了一種簡(jiǎn)單的方法來(lái)增強AGC環(huán)路，保護ADC。

 

輸入架構

 

射頻采樣ADC可采用多種不同的設計，最常見(jiàn)的一種是流水線(xiàn)架構，該架構采用多級級聯(lián)，將模擬信號轉換為數字信號。第一級最重要，可以是緩沖或未緩沖級。選擇哪種設計取決于設計要求和性能目標。例如，一個(gè)帶緩沖器的ADC通常在頻率范圍內具有更好的SFDR性能，但功耗比不帶緩沖器的ADC更高。

 

前端設計同樣會(huì )根據ADC是否有緩沖級而改變。沒(méi)有緩沖器的ADC需要使用額外的串聯(lián)電阻來(lái)處理輸入電荷反沖，它同樣會(huì )改善SFDR性能。圖1和圖2顯示了AD9625未緩沖和AD9680緩沖射頻采樣ADC的等效輸入電路簡(jiǎn)化圖。為簡(jiǎn)明起見(jiàn)，僅顯示單端輸入。

 

圖1. 未緩沖射頻采樣ADC輸入的等效電路

 

圖2. 緩沖射頻采樣ADC輸入的等效電路

 

無(wú)論采用何種架構，ADC輸入端可持續的絕對最大電壓由MOSFET能夠處理的電壓決定。緩沖輸入更復雜，且比未緩沖輸入功耗更大。ADC具有多種不同類(lèi)型的緩沖器，最常見(jiàn)的一種是源極跟隨器。

 

故障機制

 

緩沖和未緩沖ADC的故障機制有所不同，但通常是在超出允許的最大柵極-源極電壓(VGS)或漏極-源極電壓(VDS)時(shí)發(fā)生故障。這些電壓如圖3所示。

 

圖3. MOS晶體管的關(guān)鍵電壓

 

例如，假設VDS超過(guò)允許的最大電壓，則發(fā)生VDS擊穿故障，這通常在MOSFET處于關(guān)斷狀態(tài)且在漏極施加了相對于源極的過(guò)量電壓時(shí)發(fā)生。如果VGS超過(guò)允許的最大電壓，則它會(huì )導致VGS擊穿（亦稱(chēng)為氧化層擊穿）。這通常在MOSFET處于導通狀態(tài)且在柵極施加了相對于源極的過(guò)量電壓時(shí)發(fā)生。

 

未緩沖ADC的故障機制

 

圖4顯示的是一個(gè)未緩沖ADC輸入。采樣過(guò)程由反相時(shí)鐘信號Φ和Φ控制，它們是MOSFET M1的采樣/保持信號以及MOSFET M2的復位信號。M1導通時(shí)，M2關(guān)斷，且電容CSW跟蹤信號（采樣或跟蹤模式）。當M1關(guān)斷時(shí)，MDAC中的比較器作出判斷后M2導通，電容CSW復位。這樣可在采樣階段使采樣電容為下一次采樣做好準備。該電路通常工作狀態(tài)優(yōu)良。

 

但是，高壓輸入使M2暴露在超出其漏源電壓的應力之下。當對輸入高壓進(jìn)行采樣（M1導通、M2關(guān)斷）時(shí)，M2會(huì )暴露于較大的VDS之下，其在不足采樣時(shí)鐘半周期的時(shí)間內處于關(guān)斷狀態(tài)，但哪怕只是瞬時(shí)的暴露也會(huì )降低電路的可靠性，導致ADC隨時(shí)間失效。在復位模式下（M1關(guān)斷、M2導通），因M1的漏極上有輸入信號，從而也會(huì )暴露于大的VDS電壓。

 

圖4. 未緩沖ADC輸入的故障模式

 

緩沖ADC的故障機制

 

圖5顯示的是一個(gè)緩沖ADC輸入。采樣和復位信號適用相同的時(shí)鐘方案。無(wú)論相位如何，當緩沖器M3柵極暴露于高壓輸入時(shí)，產(chǎn)生電流I1以及I2。電流源I1采用PMOS晶體管實(shí)現，而I2采用NMOS晶體管實(shí)現。M3柵極上的高電壓導致I1和I2 MOSFET產(chǎn)生過(guò)大的VDS。此外，M3柵極上的高電壓還可導致氧化層擊穿。

 

圖5. 緩沖ADC輸入的故障模式

 

緩沖和未緩沖ADC的擊穿機制有所不同，因此絕對最大輸入電壓同樣有所不同，如表1所以。

 

表1. 緩沖與未緩沖ADC的絕對最大值規格

 

ADC Input Protection Using a TVS Diode

 

ADC inputs 有幾種方式可以保護ADC輸入不受高壓影響。部分ADC（特別是射頻采樣ADC）具有內置電路，可以檢測輸入電壓并在超過(guò)設定閾值時(shí)進(jìn)行上報。如數據手冊中所述，該快速檢測輸出存在一些延遲，因此依然會(huì )使ADC輸入端短時(shí)間內暴漏于高壓之下。

 

有幾種方式可以保護ADC輸入不受高壓影響。部分ADC（特別是射頻采樣ADC）具有內置電路，可以檢測輸入電壓并在超過(guò)設定閾值時(shí)進(jìn)行上報。如數據手冊中所述，該快速檢測輸出存在一些延遲，因此依然會(huì )使ADC輸入端短時(shí)間內暴漏于高壓之下。

 

圖6. 帶TVS二極管保護的ADC前端電路

 

雖然TVS二極管通過(guò)箝位過(guò)量電壓保護ADC輸入，但它們會(huì )極大地惡化諧波性能。圖7顯示了具有30 MHz、–1 dBFS輸入的14位、250 MSPS無(wú)緩沖ADC的前端帶與不帶TVS二極管時(shí)的FFT比較情況。

 

圖7. 帶與不帶TVS二極管保護的ADC前端電路FFT比較

 

TVS二極管會(huì )極大地惡化奇次諧波性能，因為它們在不作用為箝位的時(shí)候就相當于一反向偏置二極管。該PN二極管具有結電容CJ0，該電容與ADC內部開(kāi)關(guān)動(dòng)作產(chǎn)生的非線(xiàn)性反沖電流互相作用，產(chǎn)生一個(gè)與模擬輸入信號混合的電壓信號。該混合信號在A(yíng)DC內部被采樣，產(chǎn)生極大的三次諧波。在過(guò)壓條件下的時(shí)域曲線(xiàn)（圖8）顯示了TVS二極管的箝位削壓的功能。這并不表示TVS二極管不適合用來(lái)保護ADC輸入，只是必須仔細考慮二極管規格，以便達到性能要求。選擇二極管類(lèi)型及其參數時(shí)必須作更全面的考慮。

 

圖8. 前端電路中的TVS二極管保護導致削波信號

 

當帶寬和采樣速率達到GHz和GSPS級別時(shí)，射頻采樣ADC可以簡(jiǎn)化無(wú)線(xiàn)電接收機設計，因為它們不需要ADC前具有很多的混頻級，但這樣會(huì )讓ADC輸入易受過(guò)壓應力影響。圖9顯示的是用于射頻采樣ADC的典型前端設計，采用放大器驅動(dòng)。新一代放大器專(zhuān)為與這些ADC實(shí)現接口而設計，具有快速攻擊響應輸入管教，可通過(guò)串行外設接口(SPI)配置，將輸出衰減為預定增益?？焖俟繇憫_可以配置為響應射頻采樣ADC的快速檢測輸出。ADA4961是具有快速攻擊響應功能的新一代放大器實(shí)例。AD9680 和 AD9625 是具有快速檢測功能的射頻采樣ADC實(shí)例。

 

圖9. 帶快速攻擊響應功能的放大器驅動(dòng)帶快速檢測功能的射頻采樣ADC

 

只要輸入電壓處于合理的范圍之內，圖9中的拓撲便能工作良好。舉例而言，假如該接收機的輸入端收到突發(fā)高壓信號，則放大器的輸出將上升至放大器電源軌的電壓水平（本例中為5 V）。這將產(chǎn)生巨大的電壓擺幅，超過(guò)ADC輸入端的絕對最大額定電壓?？焖贆z測功能存在一定延遲（AD9680-1000為28個(gè)時(shí)鐘周期或28 ns），因此等到快速檢測邏輯輸出告訴放大器置位快速攻擊響應時(shí)，ADC早已暴露在高壓下數個(gè)時(shí)鐘周期。這可能降低ADC的可靠性，因此無(wú)法承受這種風(fēng)險的系統設計必須采用第二保護模式。具有極低器件和寄生電容的快速響應肖特基二極管在這種情況下十分管用。特定二極管的關(guān)鍵參數可參見(jiàn)數據手冊。

 

反向擊穿電壓(VBR)——AD9680輸入引腳上的最大輸入電壓——相對于A(yíng)GND約為3.2 V，因此為該二極管選擇數值為3 V的反向擊穿電壓。

 

結電容(CJ0)——二極管電容應盡可能低，確保正常工作時(shí)二極管不影響ADC的交流性能(SNR/SFDR)。

 

圖10顯示的是無(wú)源前端，肖特基二極管位于A(yíng)DC之前。無(wú)源前端比較容易演示肖特基二極管在不影響交流性能情況下對ADC輸入端的保護。

 

圖10. 顯示射頻采樣ADC和肖特基二極管的無(wú)源前端電路

 

這顆射頻采樣ADC經(jīng)過(guò)測試可輸入高達2 GHz頻率的信號，因此選用RF肖特基二極管(RB851Y)。表2顯示RB851Y的關(guān)鍵參數；表明該器件適合該應用。測試結果顯示二極管防止了ADC輸入電壓超過(guò)其3.2 V的絕對最大電壓（相對于A(yíng)GND）。圖11顯示的是一個(gè)單端輸入（ADC的VIN+引腳）暴露在高壓之下（185 MHz）的情況。肖特基二極管將電壓箝位至3.0 V左右（相對于A(yíng)GND），防止ADC輸入達到3.2 V限值。圖12顯示的是在肖特基二極管箝位下的AD9680輸入端的差分信號。

 

表2. 用于保護射頻采樣ADC輸入的肖特基二極管關(guān)鍵參數

 

圖11. 肖特基二極管箝位的單端ADC輸入

 

圖12. 肖特基二極管箝位AD9680差分輸入信號

 

下一步，我們測量正常工作性能。AD9680按照數據手冊中的建議進(jìn)行控制，但輸入如圖10所示進(jìn)行修改。模擬輸入頻率變化范圍為10 MHz至2 GHz。CJ0的超低數值應當不會(huì )對ADC的SNR和SFDR性能造成影響。

 

圖13. AD9680帶肖特基二極管保護時(shí)SNR/SFDR與模擬輸入頻率的關(guān)系

 

肖特基二極管根本不會(huì )影響SNR性能，但某些頻率下SFDR與預期值有所偏差，如圖13所示。這可能是由于差分信號失配或ADC反沖所導致的。評估板是從直流到2 GHz的寬頻段設計，因此當它在整個(gè)頻段內的整體工作良好時(shí)，某些元器件可能在特定頻率下與肖特基二極管相互作用。

 

大部分應用不會(huì )用到整個(gè)2 GHz頻段，因此可以通過(guò)修改過(guò)壓保護的輸入電路，將前端調諧至所需的目標信號帶寬。謹慎選擇肖特基二極管可以保護ADC輸入，因而系統設計人員可以使用具有最新快速攻擊響應功能和快速檢測功能的放大器驅動(dòng)前端電路，如圖14所示。

 

圖14. ADA4961驅動(dòng)AD9680（顯示射頻采樣ADC和肖特基二極管）

 

結論

 

本文討論如何使用肖特基二極管保護射頻采樣ADC輸入，使其免受過(guò)壓應力的影響。仔細審查二極管的數據手冊參數很關(guān)鍵。為了實(shí)現最佳的目標頻段性能，需要對該電路的實(shí)施進(jìn)行規劃。射頻采樣ADC的快速檢測輸出可以與最新放大器的快速攻擊響應功能進(jìn)行配合，設置自動(dòng)增益控制環(huán)路。

 

參考電路

 

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