問(wèn)題：選擇模數轉換器時(shí)是否應考慮串擾問(wèn)題？

答案：當然！串擾可能來(lái)自幾種途徑：從印刷電路板(PCB)的一條信號鏈到另一條信號鏈，從IC中的一個(gè)通道到另一個(gè)通道，或者是通過(guò)電源時(shí)產(chǎn)生。理解串擾的關(guān)鍵在于找出其來(lái)源及表現形式，是來(lái)自相鄰的轉換器、另一個(gè)信號鏈通道，還是PCB設計？

最典型的串擾測試稱(chēng)為相鄰串擾。這種串擾的表現形式是，當某個(gè)通道被以滿(mǎn)量程或接近滿(mǎn)量程驅動(dòng)時(shí)，“被觀(guān)察”的通道或信號鏈處于開(kāi)放狀態(tài)，即無(wú)信號注入。測量輸出頻譜時(shí)，可以在開(kāi)放通道上觀(guān)察到高于本底噪聲的雜散。這種串擾定義了開(kāi)放的受體通道和被驅動(dòng)的干擾源通道之間的隔離。

有時(shí)，開(kāi)放通道具有足夠的魯棒性，可以抑制來(lái)自一個(gè)被驅動(dòng)通道的交叉耦合，但這 只是一部分的抗串擾能力。另一種串擾測試是以相同的頻率驅動(dòng)系統中除一個(gè)通道外的 其他所有通道，剩余的一個(gè)通道保持開(kāi)放狀態(tài)。此時(shí)，所有干擾源的強度都通過(guò)開(kāi)放 通道來(lái)測量。

測量串擾的第三種方法是以不同的頻率和信號強度驅動(dòng)兩個(gè)或兩個(gè)以上的通道，通過(guò) 測試開(kāi)放通道，觀(guān)察是否有被驅動(dòng)通道產(chǎn)生的交叉耦合混頻產(chǎn)物的泄漏。此時(shí)，通過(guò) 混頻效應，可以看到干擾源信號如何回落至目標頻帶。

最后，這三種測量方法都可以在輸入信號超量程(超過(guò)器件或信號鏈的滿(mǎn)量程)的情況下重復進(jìn)行，有助于確定輸入信號被鉗位或通道飽和時(shí)開(kāi)放通道的魯棒性。

上述測試均應涵蓋應用的整個(gè)目標信號范圍和頻率范圍，因為串擾有時(shí)會(huì )由PCB 設計不佳而引起，或在特定的工作條件下表現出來(lái)。更換器件沒(méi)有什么幫助，轉換器或多通道器件必須經(jīng)過(guò)全面測試，以確保足夠的魯棒性，從而滿(mǎn)足您的應用。