- 探討高亮度LED的可靠性以及熱管理研究
- 介紹了一些新的可用于LED照明系統的散熱方法
- 利用壓電驅動(dòng)而產(chǎn)生脈動(dòng)空氣
- 采用主動(dòng)散熱系統
LED照明有著(zhù)許多傳統光源無(wú)可比擬的優(yōu)點(diǎn)和廣闊的市場(chǎng)前景。但是目前可靠性差、相關(guān)標準缺乏、價(jià)格昂貴等一系列問(wèn)題困擾著(zhù)LED照明產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,特別是高亮度LED照明系統中的熱管理問(wèn)題。本文針對LED照明系統的可靠性、失效模態(tài)問(wèn)題做了簡(jiǎn)單介紹,同時(shí)也介紹了一些新的可用于LED照明系統的散熱方法。
可靠性試驗以及失效模態(tài)
LED模組和燈具的典型失效模式包含了不同層次的失效模式,涉及到LED封裝結構以及工藝過(guò)程(如表1)。LED在實(shí)際使用中,由于復雜的環(huán)境以及封裝工藝局限性從而使封裝材料退化、熒光粉退化、金屬電遷移、局部溫度過(guò)高產(chǎn)生的熱應力所引起的芯片和硅膠的分層或金線(xiàn)斷裂等等,從而影響LED發(fā)光甚至導致整個(gè)LED的失效。而且LED產(chǎn)生的高溫會(huì )導致芯片的發(fā)光效率降低,光衰加快、色移等嚴重后果。


目前,如何通過(guò)加速老化試驗準確地預測LED產(chǎn)品的可靠性還是相當有挑戰性的。對于LED產(chǎn)品的長(cháng)期可靠性,應當關(guān)注如何建立用加速試驗來(lái)反映產(chǎn)品中出現的問(wèn)題。對于了解和預測宏觀(guān)系統的可靠性,可測性非常具有挑戰性,主要是因為可靠性是一個(gè)多學(xué)科的問(wèn)題,并且涉及到材料、設計、制造工藝、試驗和應用條件。因此,有必要開(kāi)發(fā)LED燈和燈具的加速試驗以及戶(hù)外照明燈具性能測試試驗,從而可以有效地研究關(guān)于LED的各種破壞機理。
據悉,飛利浦公司目前致力于研究可靠性測試標準,從而深入了解LED以及電源驅動(dòng)的失效機理。有理由相信,在不遠的將來(lái)將會(huì )有快速的、可靠的、適合于長(cháng)壽命的LED照明系統的可靠性測試實(shí)驗及標準。
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LED照明系統的熱管理
高亮度LED的亮度會(huì )隨著(zhù)芯片的結溫成指數遞減。因此,良好的散熱管理是LED固態(tài)照明系統向大功率發(fā)展的一個(gè)關(guān)鍵因素。LED固態(tài)照明系統的散熱與微電子封裝的散熱一樣,器件工作產(chǎn)生的熱量,首先由導熱經(jīng)過(guò)多層不同材料組成的封裝系統傳導到熱阱,再由對流傳熱散到環(huán)境中。LED的熱管理應該包括芯片優(yōu)化的布局設計,封裝材料(基板材料,熱界面材料)、封裝工藝和熱井的設計等方面。


除了熱界面外,主動(dòng)散熱系統已越來(lái)越受企業(yè)的歡迎。圖3給出了SynJet主動(dòng)散熱模塊,它可以產(chǎn)生脈動(dòng)空氣,從而可以把LED燈內部的熱直接帶到外面。據了解,SynJet技術(shù)可以幫助設計師解決一些產(chǎn)品的散熱問(wèn)題,如電腦產(chǎn)品,特別是高可靠性的LED產(chǎn)品。該技術(shù)有高散熱效率、低噪音、高可靠性和低功耗等優(yōu)點(diǎn)。

另一種主動(dòng)冷卻系統是利用壓電驅動(dòng)而產(chǎn)生脈動(dòng)空氣,如圖4所示。該結構簡(jiǎn)單,由一個(gè)PZT膜片和流動(dòng)通道構成。該流動(dòng)通道中設計者重點(diǎn)論述了出口和進(jìn)口通道的設計。這種結構允許每一個(gè)振動(dòng)周期中的流體在管道中的阻力和動(dòng)力差別。


對于可靠性要求較高的LED照明系統,有必要發(fā)展快速的、可靠的以及低成本的LED可靠性檢測方法。另一方面,應不斷發(fā)展新的科技提高LED照明系統的質(zhì)量,包括工藝、材料以及仿真方法。
不斷發(fā)展可靠性測試方法,可以更好的模仿燈具的應用條件或用戶(hù)要求,這樣可以更有效地研究各種破壞機理。