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SiC MOSFET模塊的硬并聯(lián)

發(fā)布時(shí)間:2022-02-17 來(lái)源:英飛凌 責任編輯:wenwei

【導讀】以對稱(chēng)的布板設計來(lái)實(shí)現4個(gè)6毫歐的碳化硅模塊的并聯(lián),給出了實(shí)際的測量結果。最后還通過(guò)門(mén)特卡羅分析來(lái)演繹批量器件應用在并聯(lián)場(chǎng)合下的溫度偏差。由此可以看出碳化硅MOSFET并聯(lián)使用的可行性。


用硅IGBT的工程師們很多曾經(jīng)有過(guò)并聯(lián)器件的使用經(jīng)歷,它不僅能降低成本還能減小整體系統分布電感。那么對于新一代的半導體器件SiC而言,是否一樣可以并聯(lián)使用呢?以下就以4個(gè)英飛凌6mohm的SiC模塊的硬并聯(lián)為例,來(lái)一起看看實(shí)現的可行性。


任何的同一料號開(kāi)關(guān)器件并聯(lián),均流總是最重要的目的,這關(guān)系到整個(gè)系統的最終功率等級,所以如何做到均流就會(huì )是一個(gè)挑戰。一般我們會(huì )按動(dòng)態(tài)均流和靜態(tài)均流分別討論它。動(dòng)態(tài)均流和系統設計有很大的關(guān)系,包括門(mén)極驅動(dòng),母排結構,PCB布線(xiàn),甚至功率器件和負載擺放的位置都會(huì )影響均流效果。而靜態(tài)均流和器件本身以及結構的幾何形態(tài)關(guān)系密切,得益于如今市場(chǎng)上大部分的功率半導體是正溫度系數的,所以靜態(tài)均流比較容易實(shí)現,對器件批次的參數差異要求不多,文章最后會(huì )給出蒙特卡洛分析來(lái)評估。


首先我們來(lái)討論一下整體結構。由于要實(shí)現最小的電流回路,整個(gè)系統做成了分開(kāi)的主功率板和驅動(dòng)電路板,用接插針來(lái)連結兩塊板子,如圖1所示。這樣的好處是4路驅動(dòng)到4個(gè)并聯(lián)模塊的距離相等。再來(lái)看一下主功率板的布局如圖2。用多層PCB來(lái)實(shí)現多層母線(xiàn)的結構,這樣的雜散電感很小,每路只有大約19nH,4個(gè)并聯(lián)后總的雜散電感不超過(guò)5nH??梢钥吹秸麄€(gè)主功率板超級對稱(chēng),這對并聯(lián)應用是最重要的,沒(méi)有之一。如果看不清楚,沒(méi)關(guān)系,請參考圖3單路的高清放大圖,上排的孔是用來(lái)套超細柔性探頭測橋臂電流;下排的孔是留來(lái)測負載電流的。這些孔在實(shí)驗階段很好用,當然在正式的設備量產(chǎn)板上是要去掉的,去掉后母排疊層區域面積變大,系統的雜散電感會(huì )進(jìn)一步減小的。


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圖1.雙層結構的電路設計


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圖2.主功率板的布局


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圖3.單個(gè)主回路


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圖4.模塊管腳布局


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圖5.門(mén)極驅動(dòng)的樹(shù)形結構


這么對稱(chēng)的母排和驅動(dòng),實(shí)際測量中均流到底好不好呢?接下來(lái),讓我們一起見(jiàn)證一下結果。需要說(shuō)明的是測試所用的雙脈沖測試電路結構是全橋的,并非常規用的半橋模式,原理如圖6。如此做的好處是可以減小半橋測試時(shí)負載電感對回路的電磁場(chǎng)影響。各個(gè)器件的門(mén)極信號給定也在圖中有顯示。由于SiC器件的體二極管導通壓降大且偏差也大,所以在續流是可以使用同步整流模式,但要留出一定的死區時(shí)間,對SiC器件而言一般不超過(guò)1us。圖7是單個(gè)模塊左右兩側的負載電流,可以看出兩者的均流度非常好。我們不僅要對每個(gè)模塊的左右電流均流度進(jìn)行確認,還要對不同模塊同一側電流進(jìn)行比較,這樣能保證器件并聯(lián)后達到最大的輸出電流。圖8和圖9分別是4個(gè)并聯(lián)模塊的開(kāi)通和關(guān)斷電流,上升和下降的斜率一致性非常高,而且沒(méi)有什么振蕩。改變溫度,母線(xiàn)電壓和門(mén)極電阻后,均流的趨勢幾乎是一樣的。


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圖6.全橋雙脈沖測試


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圖7.單個(gè)模塊左右兩側的負載電流


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圖8.開(kāi)通電流


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圖9.關(guān)斷電流


以上的這些測試結果都是針對數量有限的模塊的,那么對于批量的產(chǎn)品而言,均流又怎樣呢?最后,祭出了蒙特卡洛來(lái)進(jìn)行熱分析。這個(gè)理論簡(jiǎn)單地說(shuō)就是反復地隨機取樣,以得到最終事件概率。圖10所示,用在本次模塊并聯(lián)分析中就是從一個(gè)50000個(gè)不同損耗的樣本庫中,隨機抽出4個(gè)進(jìn)行組合,然后進(jìn)行電流與溫度的迭代,獲得該組并聯(lián)時(shí)的溫度差。多次重復進(jìn)行這樣的隨機抽取,把所有的溫度差按出現的次數繪成柱狀圖就是圖11。


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圖10.蒙特卡洛過(guò)程


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圖11.并聯(lián)溫度偏差


結束語(yǔ)



SiC器件的并聯(lián)肯定是可行的,但最最關(guān)鍵的一個(gè)詞就是“對稱(chēng)”?!皩ΨQ(chēng)”能從根本上解決各類(lèi)振蕩和不均流問(wèn)題。另外,使用同步整流還有助于續流時(shí)的均流,特別對二極管損耗占比偏高的應用大益。


來(lái)源:英飛凌


參考文獻


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Infineon AN2017-14. Evaluation Board EVAL-1EDI20H12AH-SIC.


Infineon AN2007-04. How to calculate and minimize the dead time requirement for IGBT’s properly.


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