【導讀】在碳中和的時(shí)代背景下，從毫瓦級到兆瓦級的開(kāi)關(guān)電源都在往高頻、高效、高密度的方向發(fā)展。ZDS5054A電源分析型示波器配備多種電源智能分析功能，幫助工程師快速設計高效可靠的電源。
背景介紹
在節能減排的時(shí)代背景下，從毫瓦級到兆瓦級的開(kāi)關(guān)電源，都在往高頻、高效、高密度、智能化的方向發(fā)展，對于開(kāi)關(guān)器件、磁性元件、電容、電感等器件的測試要求越來(lái)越高。
ZDS5054A電源分析功能為開(kāi)關(guān)電源量身打造，涵蓋了輸入輸出特性測試，MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析，調制波形測試等功能，全方位評測開(kāi)關(guān)電源可靠性。
電源分析功能應用場(chǎng)景
以典型的AC-DC電源為例，ZDS5054A電源分析型示波器的應用場(chǎng)景如上圖所示。下文我們簡(jiǎn)單介紹幾個(gè)特點(diǎn)功能，實(shí)際測試過(guò)程可查看本期視頻。
開(kāi)關(guān)損耗測試：精準量化分析MOSFET損耗
功率MOSFET開(kāi)關(guān)損耗測試是PFC電源調試中的難點(diǎn)，由于SPWM每個(gè)周期的開(kāi)關(guān)損耗都不相同，傳統通過(guò)手光標和數學(xué)運算手動(dòng)測試的方式已經(jīng)不適用。
ZDS5054A示波器標配512M存儲深度，可捕獲多個(gè)完整調制周期SPWM波形，自動(dòng)統計各開(kāi)關(guān)周期的開(kāi)通/關(guān)斷/導通損耗，計算最大值、最小值、平均值，準確量化開(kāi)關(guān)器件的功率損耗。
SOA分析：有效保障MOSFET安全工作
功率MOSFET瞬時(shí)電壓、電流、功率超出安全工作區，會(huì )導致器件損壞、爆炸的風(fēng)險陡增，常規調試手段難以對器件的各種工況進(jìn)行全面評估。SOA安全工作區分析功能，可統計MOSFET在所有工況下瞬時(shí)參數超出安全工作區的概率，便于工程師更好的評估電源工作穩定性。
環(huán)路分析：快速判斷電源環(huán)路穩定性
穩定的反饋環(huán)路對開(kāi)關(guān)電源來(lái)說(shuō)是非常重要的，如果沒(méi)有足夠的相位裕度和幅值裕度，電源的動(dòng)態(tài)性能就會(huì )很差或者出現輸出振蕩。伯德圖可以直觀(guān)呈現負反饋系統的增益、相位的頻率響應曲線(xiàn)，通過(guò)分析系統的增益余量與相位余量，可以判斷控制系統是否穩定。
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