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如何化解第三代半導體的應用痛點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間:2022-06-08 來(lái)源:貿澤電子 責任編輯:wenwei

【導讀】在集成電路和分立器件領(lǐng)域,硅始終是應用最廣泛、技術(shù)最成熟的半導體材料,但硅材料技術(shù)的成熟恰恰意味著(zhù)難以突破瓶頸。為了打破固有屏障,半導體產(chǎn)業(yè)進(jìn)一步深入對新材料、新工藝、新架構的探索。憑借著(zhù)在功率、射頻應用中的顯著(zhù)性能優(yōu)勢,第三代半導體逐漸顯露出廣闊的應用前景和市場(chǎng)發(fā)展潛力。


所謂第三代半導體,即禁帶寬度大于或等于2.3eV的半導體材料,又稱(chēng)寬禁帶半導體。常見(jiàn)的第三代半導體材料主要包括碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)、氮化鋁(AIN)、氧化鋅(ZnO)和金剛石等,其中又以碳化硅和氮化鎵材料技術(shù)的發(fā)展最為成熟。與第一代、第二代半導體材料相比,第三代半導體材料通常具備更寬的禁帶寬度、更高的擊穿場(chǎng)強、更高的熱導率,電子飽和速率和抗輻射能力也更勝一籌,在高溫、高壓、高頻、高功率等嚴苛環(huán)境下,依然能夠保證性能穩定。


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圖1:第三代半導體的材料特性

(圖源:STMicroelectronics)


從應用領(lǐng)域來(lái)看,第三代半導體材料廣泛應用于射頻器件、光電器件、功率器件等領(lǐng)域。以功率半導體市場(chǎng)為例,據TrendForce集邦咨詢(xún)報告,在新能源汽車(chē)、光伏儲能、智能電網(wǎng)等市場(chǎng)需求拉動(dòng)下,預計2025年第三代半導體功率市場(chǎng)規模將增至47.1億美元,年復合增長(cháng)率高達45%。從下游細分市場(chǎng)來(lái)看,由于材料性能不盡相同,碳化硅與氮化鎵在應用場(chǎng)景上也略有差異。碳化硅具備更高的熱導率,主要面向新能源汽車(chē)、光伏發(fā)電、軌道交通、智能電網(wǎng)等高壓、高功率應用;而氮化鎵則以其更高的電子遷移率,高頻特性較好,廣泛應用于PD快充、新能源充電樁、5G通信等領(lǐng)域。


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圖2:碳化硅及氮化鎵應用優(yōu)勢領(lǐng)域

(圖源:英飛凌)


整體而言,碳化硅、氮化鎵器件市場(chǎng)已經(jīng)初具規模,在功率和射頻應用領(lǐng)域完成了對硅基半導體器件的初步替代。但由于材料制備技術(shù)、器件制造與封裝工藝、動(dòng)靜態(tài)測試、驅動(dòng)設計優(yōu)化以及可靠性等問(wèn)題尚未完全解決,導致第三代半導體器件的性能大打折扣,無(wú)法完全發(fā)揮其材料本身的優(yōu)勢。關(guān)鍵技術(shù)不成熟、成本居高不下,第三代半導體器件自然難以實(shí)現更大規模的商業(yè)化落地。下面我們就從碳化硅、氮化鎵器件的應用痛點(diǎn)出發(fā),梳理一下國際大廠(chǎng)是如何攻克這些難題的。


優(yōu)化封裝技術(shù)突破開(kāi)關(guān)性能限制


與硅功率半導體相比,碳化硅功率器件擁有更快的開(kāi)關(guān)速度、更小尺寸和更低損耗,有望在諸多應用中取代IGBT。然而受限于傳統封裝技術(shù),碳化硅功率器件的性能優(yōu)勢難以完全得到發(fā)揮。傳統封裝形式通常采用TO-247N,柵極引腳和源極引腳的寄生電感將會(huì )與寄生電容發(fā)生振蕩,從而使MOSFET導通所需的柵極電壓降低,導通速度減慢。為此,一些廠(chǎng)商正在尋求更完善的封裝方案,以?xún)?yōu)化器件性能,進(jìn)一步挖掘碳化硅器件潛力。


貿澤電子在售的來(lái)自制造商ROHM Semiconductor的SCT3080KW7TL,是一款7引腳SiC功率MOSFET。SCT3080KW7TL采用了TO-263-7L表貼封裝,將電源源極與驅動(dòng)器源極引腳分離開(kāi),可提供獨立于電源的驅動(dòng)器源,有效消除了導通時(shí)源極電感對柵極電壓的影響。導通時(shí),電流變化時(shí)間縮減,導通損耗降低;關(guān)斷時(shí),寄生電感減少,關(guān)斷損耗也相應降低。此外,SCT3080KW7TL專(zhuān)有的溝槽式柵極結構將導通電阻降低了50%,輸入電容降低了35%。


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圖3:SiC MOSFET平面結構與溝槽結構性能比較

(圖源:羅姆)


具體來(lái)看,SCT3080KW7TL漏源極擊穿電壓為1.2kV,連續漏極電流為30A,具有很低的漏源導通電阻,數值為104mΩ。獨立式驅動(dòng)器源極也讓SCT3080KW7TL驅動(dòng)更加簡(jiǎn)單便捷、易于并聯(lián),有助于進(jìn)一步降低應用設備的功耗。在太陽(yáng)能逆變器、DC/DC轉換器、開(kāi)關(guān)電源、電機驅動(dòng)等領(lǐng)域,SCT3080KW7TL已經(jīng)取得了廣泛應用。


ROHM Semiconductor另一款也在貿澤有售的BM2SC121FP2-LBZE2,則是一款準諧振AC/DC轉換器IC。該芯片同樣采用了小型表貼封裝TO-263-7L,內部集成了1700V耐壓SiC MOSFET及其柵極驅動(dòng)電路。與Si-MOSFET相比,BM2SC121FP2-LBZE2將AC/DC轉換器控制IC、800V耐壓Si-MOSFET、齊納二極管、電阻器和散熱板集成在一個(gè)封裝內,極大地削減了部件數量,在小型化方面極具競爭優(yōu)勢。同時(shí),該芯片內置了高精度過(guò)熱保護功能,實(shí)現了更高的可靠性能。


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圖4:BM2SC12xFP2-LBZ應用電路

(圖源:羅姆)


此外,BM2SC121FP2-LBZE2采用了電流檢測電阻作為外部器件,IC設計簡(jiǎn)單且高度靈活??刂齐娐凡捎脺手C振方式,運行噪聲低、效率高、可軟啟動(dòng),可充分降低EMI。整體而言,BM2SC121FP2-LBZE2為大功率逆變器、AC伺服等工業(yè)設備提供了低成本、小型化、高可靠性、高效率的AC/DC轉換器解決方案。


調整驅動(dòng)設計降低功率損耗


作為柵極電壓控制器件,MOSFET柵極驅動(dòng)電壓的振蕩直接影響著(zhù)元器件的可靠性,更甚至會(huì )造成電路故障或失效。MOSFET器件在轉換過(guò)程中,柵極與漏極之間的米勒電容將會(huì )誘發(fā)米勒振蕩,干擾柵源極電壓上升,從而延長(cháng)了開(kāi)關(guān)切換時(shí)間,導通損耗大幅增加,系統穩定性也隨之降低。對于SiC MOSFET而言,其出色的開(kāi)關(guān)速度和性能更是加劇了米勒導通效應。因此,如何減少米勒電容、降低米勒效應的影響,成為各大廠(chǎng)商迫切需要解決的難題。


對此,貿澤電子在售的來(lái)自STMicroelectronics的SCTH35N65G2V-7AG提供了一種效果顯著(zhù)的解決方案。SCTH35N65G2V-7AG采用了STMicroelectronics第二代碳化硅MOSFET技術(shù),具有極低的導通電阻和優(yōu)異的開(kāi)關(guān)性能。該器件漏源極擊穿電壓為650V,漏源導通電阻最大67mΩ,柵極電荷和輸入電容極小,廣泛應用于開(kāi)關(guān)電源、DC/DC轉換器和工業(yè)電機控制等領(lǐng)域。


為了緩解米勒效應,SCTH35N65G2V-7AG采用了有源米勒鉗位技術(shù),在瞬態(tài)電壓額定值低于20V/ns時(shí),有效地抑制了米勒振蕩,減少了開(kāi)關(guān)的錯誤導通率,提高了系統穩定性。在較高瞬態(tài)電壓下,SCTH35N65G2V-7AG則通過(guò)在柵源極使用齊納保護限制振鈴,進(jìn)一步優(yōu)化電路輸出波形。


此外,與傳統IGBT相比,在相同額定電壓和等效導通電阻下,SCTH35N65G2V-7AG表現出更加優(yōu)秀的耐高溫、低損耗性能,適用于高開(kāi)關(guān)頻率應用場(chǎng)景,可減小無(wú)源元件的尺寸。同時(shí),SCTH35N65G2V-7AG的導通損耗與關(guān)斷損耗均不受結溫影響。溫度從25℃上升至175℃時(shí),該器件的導通電阻變化率明顯低于競爭產(chǎn)品。


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圖5:導通電阻隨溫度的變化

(圖源:STMicroelectronics)


STMicroelectronics另一款貿澤在售的單柵極驅動(dòng)器STGAP2SICSNTR為中高功率應用提供了一個(gè)易于使用的驅動(dòng)方案。該器件可在柵極驅動(dòng)銅導與低壓控制接口電路間提供電流隔離,具備4A與軌到軌輸出能力。STGAP2SICSNTR提供了兩種不同的配置選項,第一配置具有獨立輸出引腳,通過(guò)使用專(zhuān)用的柵極電阻器獨立優(yōu)化導通和關(guān)斷。第二種配置則具備單輸出引腳和米勒鉗位功能,抑制了半橋拓撲結構高速轉換時(shí)產(chǎn)生的柵極尖峰??傮w而言,STGAP2SICSNTR為功率轉換和電機驅動(dòng)器逆變器等工業(yè)應用提供了高度靈活、成本低廉的設計方法。


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圖6:STGAP2SICSNTR兩種配置電路框圖

(圖源:STMicroelectronics)


STGAP2SICSNTR內置了UVLO和熱關(guān)斷保護功能,可針對SiC MOSFET進(jìn)行值優(yōu)化。通過(guò)雙輸入引腳選擇控制信號極性,實(shí)現硬件互鎖保護,避免控制器故障時(shí)發(fā)生交叉輸出,可幫助工程師輕松設計高可靠性系統,提升系統運行穩定性和抗干擾能力。


此外,STGAP2SICSNTR高壓軌高達1,700V,全溫度范圍內dv/dt瞬變抗擾性在100V/ns左右,輸入輸出延遲低于75ns,PWM控制精度較高,能夠有效提高系統精度。


貿澤電子在售的STMicroelectronics GaN半橋高壓驅動(dòng)器MASTERGAN1TR,采用電源系統級封裝,集成了半橋柵極驅動(dòng)器和兩個(gè)增強型高壓GaN晶體管,為開(kāi)關(guān)電源、充電器、太陽(yáng)能發(fā)電、UPS系統、高壓PFC、DC/DC和DC/AC轉換器等應用提供了簡(jiǎn)單緊湊的解決方案。


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圖7:MASTERGAN1TR電路框圖

(圖源:Mouser)


MASTERGAN1TR還內置了集成式功率分流器和自舉二極管,漏源導通電阻約150mΩ,漏源擊穿電壓為650V,可為嵌入式柵極驅動(dòng)器快速供電。同時(shí)提供UVLO保護和互鎖保護,避免電源開(kāi)關(guān)在低效率或危險條件下工作。


總結


隨著(zhù)新能源汽車(chē)、電力電網(wǎng)和5G通信等領(lǐng)域迅速發(fā)展,以碳化硅、氮化鎵為代表的第三代半導體憑借著(zhù)其在高壓、高溫、高頻應用中的優(yōu)勢,逐漸顯露出對硅基半導體的替代作用。然而受限于傳統封裝工藝、驅動(dòng)設計等技術(shù)瓶頸,第三代半導體器件散熱、可靠性方面都面臨著(zhù)新的難題和挑戰。


面對這些應用痛點(diǎn),貿澤在售的多種類(lèi)型的功率器件及模塊、門(mén)驅動(dòng)器在封裝工藝和驅動(dòng)技術(shù)方面進(jìn)行了創(chuàng )新和優(yōu)化,打破了傳統技術(shù)的限制,最大限度地挖掘了寬禁帶半導體材料的性能優(yōu)勢,推動(dòng)寬禁帶半導體器件更大規模的商業(yè)化應用落地。


技術(shù)發(fā)展日新月異,半導體產(chǎn)業(yè)對于新材料及材料技術(shù)的追求從未止步,超寬禁帶半導體材料逐漸走進(jìn)人們的視野。以氧化鎵(GaO)為例,與碳化硅和氮化鎵相比,該材料的帶隙更寬、擊穿場(chǎng)強更高,在大功率、高頻率、高電壓設備中擁有更高的應用價(jià)值和更廣闊的發(fā)展前景。跟隨技術(shù)演進(jìn)方向,貿澤也將不斷擴展產(chǎn)品類(lèi)目,豐富解決方案,全面助力寬禁帶、超寬禁帶半導體的發(fā)展。



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