對某些人來(lái)說(shuō)ESD是一種挑戰,因為需要在處理和組裝未受保護的電子元件時(shí)不能造成任何損壞。這是一種電路設計挑戰,因為需要保證系統承受住ESD的沖擊,之后仍能正常工作,更好的情況是經(jīng)過(guò)ESD事件后不發(fā)生用戶(hù)可覺(jué)察的故障。
與人們的常識相反,設計人員完全可以讓系統在經(jīng)過(guò)ESD事件后不發(fā)生故障并仍能繼續運行。將這個(gè)目標謹記在心,下面讓我們更好地理解ESD沖擊時(shí)到底發(fā)生了什么,然后介紹如何設計正確的系統架構來(lái)應對ESD。詳細閱讀>>
元器件靜電放電隱患貫穿元器件設計、生產(chǎn)、檢驗、交接、運輸、使用全過(guò)程,通用的防護手段不可或缺,但為滿(mǎn)足新型號用元器件的發(fā)展對靜電防護技術(shù)的提升需求,需要建立系統性、工程性的靜電防護體系,遵循靜電防護與全面質(zhì)量管理相結合,靜電防護與關(guān)鍵工序質(zhì)量控制相結合,靜電防護堅持領(lǐng)導、技術(shù)人員、基層員工三結合的原則,控制元器件靜電放電損傷質(zhì)量問(wèn)題的產(chǎn)生,為保障型號元器件可靠性提供了有力的支撐。
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隨著(zhù)半導體技術(shù)的發(fā)展,大量集成電路被應用到電子產(chǎn)品中,靜電放電也成為影響電子產(chǎn)品性能的關(guān)鍵因素。但是靜電放電針對不同的環(huán)境也有不同的差異。最為明顯的就是系統層級靜電放電和芯片層級靜電放電。詳細閱讀>>
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智能手機設計在經(jīng)歷電磁兼容測試時(shí)候總是會(huì )出現或多或少的ESD靜電放電抗擾問(wèn)題,這些ESD問(wèn)題都分布在哪里呢?主要是些什么樣的ESD靜電放電問(wèn)題?有什么大的問(wèn)題和后果?詳細閱讀>>
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為實(shí)現十倍于USB2.0的傳輸速度,USB 3.0控制芯片必須使用更先進(jìn)的制程來(lái)設計與制造,這也造成控制芯片對ESD的耐受能力快速下降。USB 3.0會(huì )被大量用來(lái)傳輸影音數據,對數據傳輸容錯率會(huì )有越嚴格的要求,必要使用額外的保護組件來(lái)防止ESD事件對數據傳輸的干擾。詳細閱讀>>
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在PCB板的設計當中,可以通過(guò)分層、恰當的布局布線(xiàn)和安裝實(shí)現PCB的抗ESD設計。通過(guò)調整PCB布局布線(xiàn),能夠很好地防范ESD.盡可能使用多層PCB,相對于雙面PCB而言,地平面和電源平面,以及排列緊密的信號線(xiàn)-地線(xiàn)間距能夠減小共模阻抗和感性耦合,使之達到雙面PCB的1/10到1/100.對于頂層和底層表面都有元器件、具有很短連接線(xiàn)。詳細閱讀>>
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靜電,通常都是人為產(chǎn)生的,如生產(chǎn)、組裝、測試、存放、搬運等過(guò)程中都有可能使得靜電累積在人體、儀器或設備中,甚至元器件本身也會(huì )累積靜電,當人們在不知情的情況下使這些帶電的物體接觸就會(huì )形成放電路徑,瞬間使得電子元件或系統遭到靜電放電的損壞(這就是為什么以前修電腦都必須要配戴靜電環(huán)托在工作桌上,防止人體的靜電損傷芯片),如同云層中儲存的電荷瞬間擊穿云層產(chǎn)生劇烈的閃電,會(huì )把大地劈開(kāi)一樣,而且通常都是在雨天來(lái)臨之際,因為空氣濕度大易形成導電通到。詳細閱讀>>
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在尺寸不斷縮小的微電子時(shí)代,如果靜電放電(ESD)瞬變未加抑制地在PCB走線(xiàn)上出現之前你不去主動(dòng)地阻止它們,那么ESD事件很可能毀了你的產(chǎn)品。詳細閱讀>>
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為了提高產(chǎn)品的耐受性,影響整個(gè)電子業(yè)的四個(gè)長(cháng)期趨勢,促使靜電放電(ESD)保護在目的性工程的總體實(shí)踐中日益重要。首先,與數年前相比,隨著(zhù)用戶(hù)、信號I/O功能日益復雜和流行,產(chǎn)品上ESD的閃擊進(jìn)入點(diǎn)多了許多。尤其是對于信號I/O端口,以及小鍵盤(pán)、指示器、顯示器。詳細閱讀>>
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實(shí)際上,所有ESD測試標準都涉及了沖擊源模型,例如人體、機器或充電器件。這些模型精確地解釋了測試源的導電特性。最新的測試標準如普遍應用的IEC-61000-4-2,詳述了沖擊波形,進(jìn)一步將測試源簡(jiǎn)化成測試源變量參數,為研究和評估各種高速瞬態(tài)緩解辦法提供了關(guān)鍵信息。詳細閱讀>>
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隨著(zhù)微電子技術(shù)的飛速發(fā)展,特別是隨著(zhù)集成電路特征尺寸的減小以及MOS集成電路的廣泛使用,新型集成電路普遍具有線(xiàn)間距短、線(xiàn)細、集成度高、運算速度快、低功率和輸入阻抗高等特點(diǎn),因而導致這類(lèi)器件對靜電放電越來(lái)越敏感。詳細閱讀>>
ESD的設計學(xué)問(wèn)太深了,這里只是拋磚引玉給大家科普一下了,基本上ESD的方案有如下幾種:電阻分壓、二極管、MOS、寄生BJT、SCR(PNPN structure)等幾種方法。而且ESD不僅和Design相關(guān),更和FAB的process相關(guān),而且學(xué)問(wèn)太深了,這里我也不是很了解,無(wú)法給再大家深入了。當然術(shù)業(yè)專(zhuān)攻學(xué)無(wú)止境,工作中只有不斷學(xué)習才會(huì )創(chuàng )收更高效益。
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