中心議題：

• 基于CCD技術(shù)的非接觸在線(xiàn)檢測儀設計
• 探究CCD 光電檢測系統

解決方案

• 基于CCD 在線(xiàn)非接觸檢測的實(shí)例來(lái)解決

1．引言

檢測技術(shù)是一門(mén)應用非常廣泛的技術(shù)。在許多領(lǐng)域都會(huì )對各種加工件、各種運動(dòng)物體進(jìn)行檢測，以保證產(chǎn)品的合格率和生產(chǎn)、生活的安全性。傳統的檢測方法有人工檢測，也有用機械式、光學(xué)式或電磁式檢測儀器進(jìn)行的檢測。尤其是人工檢測全憑實(shí)際工作經(jīng)驗，若部件結構復雜，不但增加了工人的勞動(dòng)強度，而且精度、效率也會(huì )隨之降低，既不能完成非接觸檢測，又不能實(shí)現在線(xiàn)檢測，同時(shí)還增加了檢測時(shí)給工作人員所帶來(lái)的危險性。因此，隨著(zhù)科技的日新月異，勢必要有一種更加完美的檢測技術(shù)，那就是CCD 技術(shù)。 在此，以一個(gè)基于CCD 在線(xiàn)非接觸檢測的實(shí)例——《拉升鋼絲繩直徑的在線(xiàn)檢測儀》對CCD 技術(shù)進(jìn)行 一下探討。

2．系統組成

整個(gè)檢測系統由照明系統、被測工件系統、成像物鏡、CCD 光電檢測系統和計算機測控系統（8031 單片機和8279 鍵盤(pán)/顯示芯片等）構成。穩壓穩流調光電源為遠心照明系統提供穩定的照明光，被照明的工件經(jīng)成像物鏡成像在線(xiàn)陣CCD 的光敏陣列面上。由于工件不透光，工件的像在中間部分形成暗帶，兩側形成亮帶。 暗帶的寬度就是工件尺寸所成像的大小。線(xiàn)陣CCD 在驅動(dòng)脈沖的作用下完成光電轉換并產(chǎn)生視頻信號。其系 統原理圖如圖1。 在CCD 光電檢測系統中，CCD 的選型是十分重要的。CCD 的種類(lèi)繁多，而且它們都有各自的特點(diǎn)和不同的應用，所以CCD 型號的正確與否將直接影響到所測信息的正確與否。

在本系統中要求的測量范圍為15mm～45mm，測量精度和相對要求較高，所以只要選擇1000 像元以上 的線(xiàn)陣CCD 就可以滿(mǎn)足本測量系統的精度要求。因此本系統應選用TCD1206UD，它的有效像元數為2160，像元尺寸為0.014×0.014mm，像元中心距為0.014mm，足以滿(mǎn)足本測量系統的要求。

該器件的主要技術(shù)指標：

像元單元數2160 像元總長(cháng)為30.24mm

像元中心距14μm 驅動(dòng)頻率1MHz

行周期2.5ms 靈敏度45 V/lx·s

在1MHz 數據率情況下工作時(shí)，有效像元輸出時(shí)間為2.16ms,鋼絲繩直徑信號產(chǎn)生于2.16ms 期間。輸出信號的暗電平可控制在1.0V 左右。而高電平可接近10V，相差比較大。當光學(xué)系統調整得比較好時(shí)，圖像邊緣的信號比較陡，測量誤差較小。TCD1206UD 的工作原理和驅動(dòng)電路如下： [page]
（1）工作原理。 TCD1206UD 在圖2 所示的驅動(dòng)脈沖作用下工作。當ΦSH 脈沖的高電平到來(lái)時(shí)，正值Φ1 電極下均形成深勢阱，同時(shí)ΦSH 的高電平使Φ1 電極下的深勢阱與MOS 電容存儲勢阱溝通。

如圖3 所示，MOS 電容中的信號電荷包通過(guò)轉移柵轉移到模擬移位寄存器的Φ1 電極下的勢阱中。當 ΦSH 由高變低時(shí)，ΦSH 低電平形成的淺勢阱將存儲柵下勢阱與Φ1 電極下的勢阱隔離開(kāi)。存儲柵勢阱進(jìn)入光 積分狀態(tài)，而模擬移位寄存器將在Φ1 與Φ2 脈沖的作用下驅使轉移到Φ1 電極下勢阱中的信號電荷向左轉移， 并經(jīng)輸出電路由OS 電極輸出。由于結構上的安排，OS 端首先輸出13 個(gè)虛設單元信號，再輸出51 個(gè)暗信號， 然后才連續輸出S1 到S2160 的有效像素單元信號。第S2160 信號輸出后，又輸出9 個(gè)暗信號，再輸出2 個(gè)奇 偶檢測信號，以后便是空驅動(dòng)?？镇寗?dòng)數目可以是任意的。由于該器件是兩列并行分奇、偶傳輸的，所以在 一個(gè)ΦSH 周期內至少要有1118 個(gè)Φ1 脈沖，即TSH>1118T1。ΦR 為復位級的復位脈沖，復位一次輸出一個(gè) 信號。 （2）驅動(dòng)電路。TCD1206UD 的驅動(dòng)電路如圖4 所示：
由晶體振蕩器構成的脈沖信號源產(chǎn)生主時(shí)鐘ΦM。ΦM 脈沖經(jīng)或編程邏輯器件ISPLSI 產(chǎn)生ΦSH、Φ1、 Φ2、ΦR 四路驅動(dòng)脈沖。在這四路驅動(dòng)脈沖的作用下，TCD1206UD 輸出OS 信號及DOS 信號。將此二路輸出信號分別送到差分放大器LF357 的正、反輸入行差分放大，抑制掉共模的ΦR 引起的干擾，得到圖3 所示的 信號波形。SP 及ΦC 是為用戶(hù)提供的控制脈沖，SP 與CCD 輸出的像元光電信號同步，可用來(lái)做采樣保持控制 信號。ΦC 的上升沿對應于CCD 的第一個(gè)有效像素單元S1，因而可以用作行同步。當然也可以用ΦSH 作行同 步，但由于CCD 首選輸出64 個(gè)虛設單元信號，所以采用ΦC 比采用ΦSH 更好。在此檢測系統中的照明系統的照明光源和成像系統的成像物鏡的選擇也是十分重要的，在此只是對鋼絲繩的一般檢測，因此只需選擇白熾燈或鹵素燈作為照明光源即可；而成像物鏡，在此將選用放大率是β=1， f/=130mm、D/f/=0.5、2ω=140 的成像物鏡。
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4．二值化數據采集與單片機接口

本系統是用于運動(dòng)過(guò)程中的工件尺寸的檢測。由于工件在運動(dòng)過(guò)程中會(huì )因擺動(dòng)而發(fā)生位置變化，從而導致CCD 輸出的視頻信號幅值浮動(dòng)，而且光源強度變化也會(huì )引起CCD 的視頻信號起伏變化，如果選用浮動(dòng)閾值法，當由于上述原因引起CCD 的視頻信號起伏變化時(shí)，可以通過(guò)電路將光源的起伏或CCD 視頻信號的起伏變 化反饋到閾值上，使閾值電位跟著(zhù)變化，從而使CCD 視頻信號經(jīng)二值化電路后產(chǎn)生的方波脈沖的寬度基本不變。所以選用浮動(dòng)閾值法的二值化處理方法。

CCD 驅動(dòng)器除產(chǎn)生CCD 所需要的各種驅動(dòng)脈沖，還要產(chǎn)生行同 步脈沖ΦC 和用作二值化計數的輸入脈沖Φt，要求ΦC 與SH 同周期，ΦC 的上升沿對應于CCD 輸出信號的第 一個(gè)有效像素單元，要求Φt 脈沖頻率是復位脈沖ΦR 頻率的整數倍。將定時(shí)器T0 的方式寄存器TMOD 的GATE 位置1，這里定時(shí)器T0 受外部引腳輸入電平的控制，即INT0 控制T0 的運行。將二值化電路輸出的方波脈沖 信號和行同步脈沖ΦC 一起輸入“與”門(mén)，它們的輸出信號接到單片機的INT0 引腳，并由INT0 來(lái)控制單片 機定時(shí)器T0 的啟動(dòng)，同時(shí)將復位脈沖ΦR 接到單片機的P3.4 引腳。當行同步脈沖ΦC 和二值化方波脈沖信號都出現高電平時(shí)，“與”門(mén)輸出的也是高電平，用這個(gè)高電平去啟動(dòng)單片機的定時(shí)器T0 對復位脈沖ΦR 進(jìn) 行記數，當行同步脈沖ΦC 和二值化方波脈沖信號有一個(gè)出現低電平時(shí)，“與”門(mén)輸出的Y 也為低電平，定時(shí)器T0 停止記數。這里定時(shí)器T0 所記的數即為復位脈沖數，由于復位脈沖ΦR 與CCD 像元同周期，幫定時(shí)器 T0 所記的數即為二值化方波脈沖信號高電平所覆蓋像元數。這樣便完成了CCD 輸出信號的處理工作，在定時(shí)器T0 中記下了與工件尺寸有關(guān)的數據，即CCD 像元數。在光學(xué)系統中的放大率為1，所以用測量所得的像元 數去乘以CCD 的像元中心距，其結果就是在誤差允許范圍內的工作尺寸的真實(shí)值。

5．程序流程圖

由此程序流程圖便可以完成匯編程序的編制，在此不再詳述。 6．結束語(yǔ)

由于機械式、光學(xué)式、電磁式的測量?jì)x器的制造技術(shù)已十分成熟，因此，在目前的檢測領(lǐng)域中，它們還占據著(zhù)重要位置。但是相信隨著(zhù)制造技術(shù)的提高，CCD 像感元件的制作成本將會(huì )隨之降低，而其精度卻會(huì )進(jìn) 一步提高。到那時(shí)不管在精密檢測領(lǐng)域，還是在一般檢測系統中將會(huì )大量地應用CCD 技術(shù)，CCD 技術(shù)將成為將來(lái)檢測領(lǐng)域的主導技術(shù)。